在使用中，通過(guò)替換連接在兩個(gè)支撐架之間的耦合元件或者調整多個(gè)耦合元件之間的連接關(guān)系，就可以將耦合去耦網(wǎng)絡(luò )的參數調整至與被測設備的參數相匹配。摘要 本發(fā)明公開(kāi)一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，包括：絕緣材質(zhì)的底座、設置于底座上的多個(gè)導電元件支架、以及多個(gè)耦合元件；一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，其特征在于，包括：絕緣材質(zhì)的底座；

根據權利要求1所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，其特征在于，所述導電元件支架包括底架和個(gè)支撐架。根據權利要求2或3所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，其特征在于，所述導電元件支架的支撐架包括： 與所述底架連接、且向所述底座的上方延伸的支撐架主體；根據權利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，其特征在于，通過(guò)焊接方式連接所述耦合元件與相應的支撐架。根據權利要求5所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，其特征在于，通過(guò)壓力焊接方式連接所述耦合元件與相應的支撐架。

根據權利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，其特征在于，通過(guò)導電夾持件連接所述耦合元件與相應的支撐架。根據權利要求4所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，其特征在于，所述耦合元件包括電容、放電管和導線(xiàn)中的任意一種或任意多種。本發(fā)明屬于電氣測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種耦合去耦網(wǎng)絡(luò )。隨著(zhù)電子技術(shù)的不斷發(fā)展，電子設備所處的電磁環(huán)境日益復雜，為了檢驗電子設備在實(shí)際運行過(guò)程中的抗干擾能力，要對電子設備進(jìn)行電磁兼容傳導抗擾度測試。

0規定了一種新的測試方法，允許使用耦合/去耦網(wǎng)絡(luò )進(jìn)行發(fā)射測量（CDNE），以測量30至300 MHz頻率范圍內的干擾電壓。這種方法使EUT可以直接連接到CDNE，從而允許單個(gè)傳導發(fā)射測量來(lái)代替漫長(cháng)的輻射發(fā)射測試。產(chǎn)品標準可以使用這種快速，方便和經(jīng)濟的選擇。CDNE系列耦合/去耦網(wǎng)絡(luò )CISPR 15為測量電氣照明設備的無(wú)線(xiàn)電干擾特性提供了一種獨立的方法。該方法規定使用IEC 61000-4-6中定義的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò )（CDN），擴展頻率范圍為30至300 MHz。

多個(gè)耦合元件，每個(gè)所述耦合元件連接于分屬于不同導電元件支架的兩個(gè)支撐架之間，所述多個(gè)耦合元件通過(guò)所述導電元件支架構成耦合電路和去耦合電路。根據權利要求1所述的耦合去耦網(wǎng)絡(luò )，其特征在于，所述導電元件支架包括底架和兩個(gè)支撐架。